CS100F 90nm FLASH工艺指定用于10,000次循环编程,并且具有> 20yr的器件数据保持能力。
在鉴定期间,用于数据保留研究的所有装置都使用10,000次擦除循环进行预处理。
这确保了LatticeXP2在循环FLASH存储器后可以满足数据保留期望。
这些数据可在我们的扩展设备可靠性报告或LatticeXP2产品系列中获得(现在可在www.latticesemi.com在线获取,请访问质量和可靠性页面):
。LatticeXP2产品系列资格摘要
。除10,000次循环分析外,XP2-5和XP2-40设备已经过100万次(是的,1,000,000次)循环测试,设备仍然可以正常工作。
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