描述
我正在尝试在Virtex-6 FPGA ML605评估套件上运行接口。
可以运行哪些测试来确保接口正常工作？
解
下面引用的Virtex-6 FPGA ML605评估套件文档和参考设计可在ML605支持页面上找到。
| 特征 | 测试设计 | 笔记 |
| ML605 | ||
| 配置接口 | ||
| 配置模式引脚 | ML605用户指南（UG534） | 表1-33具有有效设置。假设BPI，Platform Flash和System ACE配置正确，可以测试模式引脚。 |
| 配置USB JTAG端口 | ML605 BIST（XTP056） | 参见“带有BIST设计的ML605程序” |
| 配置BPI Flash | ML605 BIST（XTP056） | |
| 配置系统ACE | ML605 BIST（XTP056） | 假设正确构建的System ACE卡。有关恢复内容，请参阅XTP055。 |
| 配置平台Flash XL | ML605 BIST（XTP056） | |
| 电路板功能接口 | ||
| 板DDR3 SODIMM | ML605 BIST（XTP056） | 还使用ML605 MIG设计进行了测试。 |
| 板DVI PHY | ML605 BIST（XTP056） | |
| 板PCIe边缘连接器 | ML605 PCIe x4示例设计（XTP045） | 也可以使用ML605 PCIe x8示例（XTP044）。 |
| 板SFP连接器 | ML605 IBERT设计（XTP046） | 需要Molex 74720-0501。 |
| 板USB 2.0主机 | XTP048 | |
| 板USB 2.0客户端 | XTP048 | |
| 板振荡器（200 MHz，差分） | ML605 BIST（XTP056） | 默认BIST示例使用套接字时钟。 |
| 板RJ45 – 以太网 | ML605 BIST（XTP056） | |
| 板USB串行UART | ML605 BIST（XTP056） | |
| 电路板电源监控接口（TI PMBus） | （Xilinx答复37561） | 需要TI USB EVM适配器;请参阅（Xilinx答复54022） |
| 板I2C接口 | ML605 BIST（XTP056） | |
| 板FMC-HPC连接器 | XM105用户指南（UG537） | 第29页。这是XM105夹层调试卡的用户指南。此卡具有DS5，DS6和DS7，表示电路板具有良好的电源。 调试策略将根据使用的特定夹层卡而有所不同。也可以使用XTP091。 |
| 板FMC-LPC连接器 | XM105用户指南（UG537） | 第29页。这是XM105夹层调试卡的用户指南。此卡具有DS5，DS6和DS7，表示电路板具有良好的电源。 调试策略将根据使用的特定夹层卡而有所不同。也可以使用XTP091。 |
| 板系统监视器接口 | ML605 BIST（XTP056） | 也可以使用专门的ML605系统监控器实例设计。 |
| 收发器接口 | ||
| 收发器RefCLK（差分） | XTP046 | 这是IBERT示例，可以修改为使用SMA RefCLK |
| 收发器SMA连接器（差分） | ML605 IBERT设计（XTP046） | |
| 用户指定的接口 | ||
| 用户CLK插座连接器（单端） | ML605 BIST（XTP056） | BIST中的所有设计都使用套接字时钟源。 |
| 用户SMA CLK连接器（差分） | 没有 | 这些是完全由用户驱动的I / O.一个好的测试是环回或监视范围上的差分I / O. |
| 用户SMA连接器（差分） | 没有 | 这些是完全用户驱动的差分时钟。可以修改示例设计以使用它们而不是插座振荡器。 |
| 用户LED | ML605 BIST（XTP056） | |
| 用户DIP开关 | ML605 BIST（XTP056） | |
| 用户PushButtons | ML605 BIST（XTP056） | |
| 用户液晶显示器 | ML605 BIST（XTP056） | |
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