描述
我正在尝试在Spartan-6 FPGA SP605评估套件上运行接口。
可以运行哪些测试来确保接口正常工作?
解
下面引用的Spartan-6 FPGA SP605评估套件文档和参考设计可在SP605支持页面上找到。
特征 | 测试设计 | 笔记 |
SP605 | ||
配置接口 | ||
配置模式引脚 | SP605用户指南(UG526) | 第57页,配置选项 – 假设已正确配置SPI,BPI和System ACE。 有关将内容恢复为默认值,请参阅XTP061。 |
配置USB JTAG端口 | SP605 BIST(XTP062) | 第52页 – “使用BIST设计编程SP605”。 |
配置BPI Flash | SP605 BIST(XTP062) | 第21页 – 备选方案4 |
配置SPI Flash | SP605 BIST(XTP062) | 第21页 – 备选方案9 |
配置系统ACE | SP605 BIST(XTP062) | 第18页 – 假设正确构建的System ACE卡。请参阅XTP061以恢复内容。 |
电路板功能接口 | ||
板DDR3内存 | SP605 BIST(XTP062) | 第21页,选项8 – 也可以使用XTP060(SP605 MIG设计)进行测试。 |
板I2C接口 | SP605 BIST(XTP062) | 第21页,选项5 |
板RJ45 – 以太网 | SP605 BIST(XTP062) | 第21页,选项6 |
板USB串行UART | SP605 BIST(XTP062) | 第13-16页 |
板GPIO标题 | 独立应用测试(XTP064) | GPIO标头环回测试部分 |
板FMC-LPC连接器 | XM105用户指南(UG537) | 第29页。这是XM105夹层调试卡的用户指南。 此卡具有DS5,DS6和DS7,表示电路板具有良好的电源。 调试策略将根据使用的特定夹层卡而有所不同。 |
电路板电源监控接口(TI PMBus) | (Xilinx答复37561) | 写于ML605,但也适用于SP605。需要TI USB EVM适配器;看(Xilinx答复54022) |
板DVI PHY | SP605 BIST(XTP062) | 第21页 – 选项C. |
板PCIe边缘连接器 | SP605 PCIe Gen1设计(XTP065) | |
板SFP连接器 | SP605 IBERT设计(XTP066) | 第14页 – 需要Molex 74720-0501 |
收发器接口 | ||
收发器GTP RefCLK(差分) | SP605 IBERT设计(XTP066) | 选择RefCLK SMA连接器作为时钟(P = FPGA引脚C11,N = FPGA引脚D1,GTPA1_DUAL_X0Y0) |
收发器GTP收发器SMA连接器(差分) | SP605 IBERT设计(XTP066) | 第12和13页 |
用户指定的接口 | ||
用户LED | SP605 BIST(XTP062) | 第21页 – 备选方案2 |
用户DIP开关 | SP605 BIST(XTP062) | 第21页 – 备选方案7 |
用户按钮 | SP605 BIST(XTP062) | 第21页 – 选项A. |
用户CLK套接字连接器 | SP605 BIST(XTP062) | 该套件中的任何测试设计都使用插槽CLK,也可以用于IBERT示例设计(XTP066)。 |
用户SMA连接器(差分) | 没有 | 这些是完全由用户驱动的I / O.一个好的测试是环回或监视范围上的差分I / O. |
用户SMA CLK连接器(差分) | 没有 | 这些是完全用户驱动的差分时钟。 可以修改示例设计以使用它们而不是插座振荡器。 |
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