Spartan-6 FPGA SP605评估套件 – 接口测试设计-Altera-Intel社区-FPGA CPLD-ChipDebug

Spartan-6 FPGA SP605评估套件 – 接口测试设计

描述

我正在尝试在Spartan-6 FPGA SP605评估套件上运行接口。

可以运行哪些测试来确保接口正常工作?

下面引用的Spartan-6 FPGA SP605评估套件文档和参考设计可在SP605支持页面上找到。

特征 测试设计 笔记
SP605
配置接口
配置模式引脚 SP605用户指南(UG526) 第57页,配置选项 – 假设已正确配置SPI,BPI和System ACE。
有关将内容恢复为默认值,请参阅XTP061。
配置USB JTAG端口 SP605 BIST(XTP062) 第52页 – “使用BIST设计编程SP605”。
配置BPI Flash SP605 BIST(XTP062) 第21页 – 备选方案4
配置SPI Flash SP605 BIST(XTP062) 第21页 – 备选方案9
配置系统ACE SP605 BIST(XTP062) 第18页 – 假设正确构建的System ACE卡。请参阅XTP061以恢复内容。
电路板功能接口
板DDR3内存 SP605 BIST(XTP062) 第21页,选项8 – 也可以使用XTP060(SP605 MIG设计)进行测试。
板I2C接口 SP605 BIST(XTP062) 第21页,选项5
板RJ45 – 以太网 SP605 BIST(XTP062) 第21页,选项6
板USB串行UART SP605 BIST(XTP062) 第13-16页
板GPIO标题 独立应用测试(XTP064) GPIO标头环回测试部分
板FMC-LPC连接器 XM105用户指南(UG537) 第29页。这是XM105夹层调试卡的用户指南。
此卡具有DS5,DS6和DS7,表示电路板具有良好的电源。
调试策略将根据使用的特定夹层卡而有所不同。
电路板电源监控接口(TI PMBus) (Xilinx答复37561) 写于ML605,但也适用于SP605。需要TI USB EVM适配器;看(Xilinx答复54022)
板DVI PHY SP605 BIST(XTP062) 第21页 – 选项C.
板PCIe边缘连接器 SP605 PCIe Gen1设计(XTP065)
板SFP连接器 SP605 IBERT设计(XTP066) 第14页 – 需要Molex 74720-0501
收发器接口
收发器GTP RefCLK(差分) SP605 IBERT设计(XTP066) 选择RefCLK SMA连接器作为时钟(P = FPGA引脚C11,N = FPGA引脚D1,GTPA1_DUAL_X0Y0)
收发器GTP收发器SMA连接器(差分) SP605 IBERT设计(XTP066) 第12和13页
用户指定的接口
用户LED SP605 BIST(XTP062) 第21页 – 备选方案2
用户DIP开关 SP605 BIST(XTP062) 第21页 – 备选方案7
用户按钮 SP605 BIST(XTP062) 第21页 – 选项A.
用户CLK套接字连接器 SP605 BIST(XTP062) 该套件中的任何测试设计都使用插槽CLK,也可以用于IBERT示例设计(XTP066)。
用户SMA连接器(差分) 没有 这些是完全由用户驱动的I / O.一个好的测试是环回或监视范围上的差分I / O.
用户SMA CLK连接器(差分) 没有 这些是完全用户驱动的差分时钟。
可以修改示例设计以使用它们而不是插座振荡器。
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