TAGT- TAP控制器状态的一般描述

描述

TAP控制器状态机是如何工作的？

有关更多FPGA器件特定问题和其他与配置相关的文章，请参见（赛灵思解答34104）.

解决方案

TAP控制器是响应于通过测试访问端口提供的控制序列的16态FSM。

状态图如下图所示：

状态之间的转换只发生在TCK的上升沿上，并且每个状态都有不同的名称。

两个具有七个状态的垂直列分别表示指令路径和数据路径。

数据寄存器在名称为“DR”的状态下运行，指令寄存器在名称为“IR”的状态下运行。状态是相同的。

下面描述每个状态的操作。

测试逻辑复位

在该控制器状态下禁用所有测试逻辑，使IC正常工作。TAP控制器状态机被设计为，不管控制器的初始状态是什么，测试逻辑复位状态可以通过在高和脉冲TCK保持五次TMS来输入。这就是为什么测试复位（TrST）引脚是可选的。

空闲运行测试

在该控制器状态下，只有当存在某些指令时，IC中的测试逻辑才是有效的。例如，如果指令激活自测试，则当控制器进入该状态时执行。IC中的测试逻辑是空闲的。

选择Scan博士

该控制器状态控制是否进入数据路径或选择IR扫描状态。

选择红外扫描

该控制器状态控制是否进入指令路径。控制器可以返回到测试逻辑复位状态。

捕获红外

在该控制器状态中，指令寄存器中的移位寄存器组并行地在TCK的上升沿上加载固定值的模式。最后两个有效位必须始终是“01”。

移位红外

在该控制器状态下，指令寄存器在TDI和TDO之间连接，捕获的模式在TCK的每个上升沿上移位。TDI引脚上可用的指令也被转移到指令寄存器中。

EXIT1IR

该控制器状态控制是否进入暂停IR状态或更新IR状态。

暂停红外

这种状态允许指令寄存器的移位暂时停止。

EXIT2DR

该控制器状态控制是否进入移位IR状态或更新IR状态。

更新红外

在该控制器状态中，指令寄存器中的指令被锁存到TCK的每个下降沿的指令寄存器的锁存库。该指令一旦被锁存就变成当前指令。

捕获DR

在该控制器状态下，数据被并行加载到TCK上升沿上的当前指令所选择的数据寄存器中。

Shift Dr，Ext1 DR，暂停DR，EXIT2 DR和更新DR

这些控制器状态类似于指令路径中的移位IR、EXIT1 IR、暂停IR、EXIT2 IR和更新IR状态。