6.2i iMPACT  – 针对包含存储器元件的设计改进的iMPACT回读验证操作导致在FPGA验证操作期间Done引脚丢失为低电平-Altera-Intel社区-FPGA CPLD-ChipDebug

6.2i iMPACT – 针对包含存储器元件的设计改进的iMPACT回读验证操作导致在FPGA验证操作期间Done引脚丢失为低电平

问题描述

一般问题描述:

iMPACT为所有FPGA执行有效回读。因此,对于包含存储器元件的设计,在回读和验证期间可能会损坏存储器内容。

iMPACT也没有说明回读的中断。如果回读被中断并再次执行,则配置数据可能已损坏。

解决/修复方法

iMPACT对V2,2P和Spartan-3回读/验证操作实施了以下更改,以避免任何配置数据损坏。

1.在每次回读操作之前,发出关闭命令,并在完成回读后发出启动命令。发出shutdown命令后,所有IO均为3状态,直到发出启动命令。

2.如果回读过程中断,则会传递一系列特殊指令,以确保顺序回读不会破坏器件的配置存储器内容

此增强功能已包含在最新的6.2i Service Pack中,可从以下位置获得:

http://support.xilinx.com/xlnx/xil_sw_updates_home.jsp

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