描述
下面的解决方案记录描述了XC4K/XC5K/SMTAN系列部件中执行的ExExt命令的操作。此外，还有关于ITEST的信息。
解决方案
XC4000／XC5200系列器件实现IEEE 1149.1兼容的EXTEST指令。在边界扫描指令寄存器（IR）中加载一个位序列“000”将使EXTEST指令生效。
图2中（Xilinx XAPP017）显示典型的IOB中的边界扫描逻辑。边界扫描数据寄存器（DR）是在IOBS中实现的串行移位寄存器。每个IOB可以配置为独立控制的双向PIN。因此，每个IOB提供三个数据寄存器位：用于输入数据、输出数据和三态控制。
更新锁存器伴随DR的每个位，并且用于在新的测试数据的移位期间保持测试数据。更新锁存器在TAP控制器的更新DR状态期间得到更新。
为了执行EXTEST指令，在TDI引脚的TIR控制器的移位IR状态中，将位模式“000”移位到IR中。此指令将在更新IR状态中成为当前，并且ExExt线将被断言。此时，DR的输入位中的数据被驱动到FPGA互连（IOB.I），并且输出和3态控制位中的数据被驱动到器件引脚。
在TAP控制器的捕获DR状态中，来自器件引脚的数据转到DR输入位（移位/捕获线去断言），即，在IOB触发器中捕获。应该注意的是，确保DR的输出位在这一点上已经被3次声明，否则将在PIN上发生争用，并且未知的数据将被捕获。DR的输出和三态位
在这种状态下捕获来自FPGA互连的数据（IOB.O和IOB.T）。
在TAP控制器的移位DR状态（偏移/捕获线断言）期间，该捕获的数据可以被移出用于TDO引脚上的检查。
* IEEE标准1149.1不要求在更新IR状态期间向器件互连内部注入数据。然而，这种能力有助于弥补缺乏测试支持。
注意，每当TAP控制器处于更新DR状态时，不管指令如何，都会更新更新锁存器。必须注意确保在启动ExestRead之前在更新锁存器中包含适当的数据。任何指令，包括旁路，在加载测试数据之后，但在ExtExt之前执行。
指令变为电流，改变测试数据。
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