数据手册-耐辐射器件:制造工艺和功耗-Xilinx-AMD社区-FPGA CPLD-ChipDebug

数据手册-耐辐射器件:制造工艺和功耗

描述

一般描述:

什么是使器件辐射耐受的过程?

RAD容忍和常规器件之间的功耗有什么区别吗?

解决方案

我们的耐辐射部件使用特殊的外延晶片FAB工艺制造。这使得产品免疫闭锁。只有用这种方法制造的器件才保证是RAD硬的。

功耗没有差别。两种器件都使用相同的几何结构,差异是用于RAD容差器件的外延层。

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