XC9500——什么变量影响9500器件的Program时间？

描述

哪些变量影响器件的Program时间？

解决方案

XC9500 CPLD系列和XC9500 XL/XC9500 XV CPLD系列之间的Program算法存在差异。

XC9500：

擦除脉冲时间：1.3秒

程序脉冲时间：160μs（XC9536除外，使用640μs）

XC950XL：

擦除脉冲时间：200毫秒（在撞击4.1i-4.2ISP2中为100毫秒）

程序脉冲时间：20毫秒（在撞击4.1i-4.2ISP2中为10毫秒）

此外，必须考虑在这些器件中的内部自校验操作的结果。自校验的结果可以是“成功”、“失败”或“未完成”。擦除和程序操作都包括内部自校验操作。

在运行测试等待时间进行Program时，器件将Program字线；之后，该器件将自动验证字线Program结果。自验证过程在程序操作停止后立即开始。程序操作结束以下两个事件之一：

1。当边界扫描工具在运行测试状态中等待足够长的时间时，器件的内部定时器停止程序操作；通常，当器件仍处于运行测试状态时，自校验操作完成。

2。当边界扫描工具在器件内部计时器停止程序操作之前退出运行测试时，从RunTestStutin退出的TAP状态会导致程序操作停止。

自检需要一个有限的时间完成，否则，捕获一个“未完成”的结果。在事件1中，自校验通常在运行状态下完成，因此自校验结果总是“成功”或“失败”。（在报告“失败”状态时，关于“重试”要求的信息，请参阅Xilinx应用程序注释：使用SVF文件来ProgramXC。自动测试器件和第三方工具系统中的9500种器件（Xilinx XAPP067）

在事件2中，自验证在器件离开RunTestType之后开始。事件α2可能是一个问题，因为只有一个短时间（取决于TCK速度）在TAP到达捕获DR状态，在捕获DR状态中捕获操作结果。如果自检不在此期间完成，则为操作结果捕获“不完全”状态。

XC9500系列家用电器对内部定时器精度有特别大的变化。对于一些XC9500器件，内部定时器可能导致操作比在SF文件中指定的RunTestTimes花费更长的时间。这可能导致事件2以上。在1 MHz TCK，故障通常是被捕获的“未完成”状态的结果。

下面的工作使您能够补偿ATE工具上的XC9500内部定时器变化：

1。减慢TCK，这有效地增加了在SF中每个RunTest语句的等待时间。TCK的慢化还延迟了从RunTest出境的出口到捕获DR状态的抽头转换时间；这使得自校验过程时间得以完成。

2。手动编辑SF文件并增加RunTestNoT。

XC9500 XL擦除和所有程序操作的运行测试时间对于擦除/程序和自校验操作都有足够的余量，以便在指定的RunTestTimes中完成。

9500器件的Program也将直接受到链中器件数量和器件被Program的频率的影响。