JTAG-DO Xilinx器件提供BIST（内置自测试）能力？

描述

一般描述：

Xilinx器件支持内置自测试（BIST）能力吗？

解决方案

Xilinx不提供任何自动化的BIST功能，但用户可以将BIST添加到设计中。然而，大多数用户不包括BIST功能，因为包括BIST的主要原因是由其他FPGA设计能力来解决的：

1。我想要一个简单的通用测试来指示FPGA正在工作。

通过执行任何基本的JTAG操作（例如，扫描IDCODE），可以很容易地完成该测试。Program部分是另一个好的通用测试。

2。我希望严格测试FPGA或CPLD基础结构（LUTS、寄存器、互连等）。

Xilinx在零件运送到客户之前，用自动测试器件尽可能最大限度地测试模具上的物理部件。包含一个内置的测试来检查每一个器件资源，以足够的组合来提供足够的覆盖，将需要非常大量的逻辑。

三。我如何确保我的设计能做到我想要做的？

没有办法让器件或软件知道设计的功能是什么。回答这个问题的最好方法是在软件中仿真设计。ChIPStudio可以用来比较硬件中的实际行为，但是用户仍然必须准确地知道预期的结果。

BIST主要是由ASIC设计者使用的，他们不需要能够很容易地修改设计或插入芯片的核心。BIST模式包含在设计中，并且它由JTAG指令启用。模式被输入到输入中，然后检查输出以获得正确的行为。

FPGA或CPLD设计者可以很容易地将BIST能力添加到设计中，但是可能很难证明包括BIST所需的附加器件资源。