格子为MaxxO2器件在大气中子作用下提供任何测试数据吗？

MACHXO2产品系列的可靠性报告具有软错误率（SER）测试数据。进行SER测试，以表征SRAM存储和器件逻辑元件对高能中子和α粒子辐射的敏感性。由这些粒子的冲击引起的电荷可以聚集在器件中的敏感节点上，并导致器件内部电状态的变化。虽然这些更改不会对设备造成物理损坏，但它们会导致设备操作中的逻辑错误。

中子SRAM SER率-这一特性是在中子测试期间配置RAM和嵌入块RAM（EBR）单元的翻转速率。装置被配置为逻辑模式，暴露于测量中子剂量，并且从装置读取设备配置。通过模式比较来识别改变的比特。中子测试归一化到公布的中子通量率为纽约海平面。该速率被测量为在设备中每百万比特归一化的时间（FIT）的标准化，以允许跨设备族密度的平移。

这个MACHXO2产品族资格概述详细的测试和数据在第6页，第23页。