当比较在存储器器件和FPGA引脚上探测到的信号时，在示波器上观察到，与存储器引脚上的信号相比，FPGA引脚上的信号具有严重的反射。这是由于包装效应，如下所述：
FPGA：
1. FPGA封装具有很长的走线（例如Stratix®V中约为50-150ps）。
2.由于FPGA支持不同的IO标准，缓冲器的电容很高。
离散内存组件：
1.封装迹线相对较短（约10-30ps）。
2.缓冲器的电容低得多（通常为1.8pF）。
在FPGA中，信号在IO缓冲区终止，而不是在引脚处终止。由于封装走线长度较大，因此在FPGA引脚上进行探测就像在具有异常终止的传输线中间进行探测一样。这就是为什么在范围上看到反思的原因。由于存储器封装走线远远短于FPGA的走线，因此存储器引脚上的信号看起来好得多，反射更少。
如果使用电路板仿真工具（例如Hyperlynx）仿真相同的信号，则可以看到在观察IO缓冲器处的信号时这些影响消失。因此，Altera建议客户对ISI和串扰执行板级仿真，而不是直接测量。
有关电路板仿真和计算通道信号完整性的更多信息，请参考Altera Wiki上的以下页面： 测量通道信号完整性 （HTML）
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