PCIe扫盲——高级错误报告AER（一）

前面的文章提到过高级错误报告（Advanced Error Reporting，AER），接下来详细地介绍一下这一功能。在已有的PCIe错误报告机制上（之前文章介绍的），AER还支持以下特性：

·         在登记实际发生的错误类型时，有更好的粒度（Granularity，可以理解为区分度或者精确度）

·         区分各种不可校正错误的严重程度

·         支持登记包头中的错误

·         为Root通过中断报告接收到的错误消息提供了标准化的控制机制

·         可以定位错误源在PCIe体系结构中的位置

·         能够独立地屏蔽某种（或者多种）错误类型的报告

配置空间中的AER相关寄存器结构如下图所示：

前面的文章中多次提到过，ECRC的产生于校检需要AER的支持，相关控制bit位于高级错误功能控制寄存器中，如下图所示：

其中，最低5bits为当前错误指针（First Error Pointer），当相关错误状态更新时，该指针由硬件自动更新。一般情况下，当前错误指针指向的错误是优先级最高的错误，需要最先被处理的，往往也是其他错误的根源。PCIe Spec V2.1还支持多个错误的追踪（Tracking Multiple Errors）。

图中的ROS、RWS、RO等字符的意义如下：

·         RO——只读（Read Only），由硬件控制

·         ROS——只读且不被复位（Read Only and Sticky）

·         RsvdP——保留且不可以用于其他用途

·         RsvdZ——保留且只能被写0

·         RWS——可读可写且不被复位（Readable，Writeable and Sticky）

·         RW1CS——可读，写1清零，且不被复位

不被复位是指该bit的内容不会因为复位（断电后的上电复位除外）而发生改变。PCIe总线中有多种复位概念，Sticky bit（不被复位的位）不会受到功能层复位（Function Level Reset， FLR）、热复位（Hot Reset）和暖复位（Warm Reset）的影响，甚至不受冷复位（Cold Reset）的影响（当主电源切断后，Vaux等二级电源仍保持正常供电）。关于PCIe总线的复位机制，后续的文章会详细地介绍。